繼榮獲第十一屆“中國芯”最具潛質(zhì)獎(jiǎng)之后,西安紫光國芯內(nèi)嵌自檢測(cè)修復(fù)DRAM芯片系列產(chǎn)品再度收獲行業(yè)認(rèn)可。3月23日拉開序幕的2017中國半導(dǎo)體市場(chǎng)年會(huì)暨第六屆集成電路產(chǎn)業(yè)創(chuàng)新大會(huì)期間,西安紫光國芯歷時(shí)數(shù)年開發(fā)的具有完全自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)的內(nèi)嵌自檢測(cè)修復(fù)DRAM芯片榮獲由中國半導(dǎo)體行業(yè)協(xié)會(huì)、中國電子材料行業(yè)協(xié)會(huì)、中國電子專用設(shè)備工業(yè)協(xié)會(huì)及中國電子報(bào)聯(lián)合評(píng)選的“第十一屆(2016年度)中國半導(dǎo)體創(chuàng)新產(chǎn)品和技術(shù)獎(jiǎng)”。
該系列產(chǎn)品創(chuàng)新性的將自檢測(cè)修復(fù)(ECC)技術(shù)內(nèi)嵌到存儲(chǔ)器芯片片內(nèi),是全球首系列商用的內(nèi)嵌自檢測(cè)修復(fù)(ECC)技術(shù)DRAM存儲(chǔ)器產(chǎn)品, 與傳統(tǒng)JEDEC標(biāo)準(zhǔn)DRAM芯片產(chǎn)品“即插即用”式兼容。